DIL 502 Expedis® Supreme 集成了热膨胀测量领域的尖端技术，为宽广应用领域内的专业级的应用而设计。DIL Expedis 系列的所有型号均基于 NanoEye 测量系统，在测量范围与精度两方面达到了新的高度。
DIL基本功能
软化点检测
软件控制的力的调整（包括：线性力，恒定力，斜变力，步阶力）
调制力
密度测量
用于温度校正和检测热效应的c-DTA® 功能
速率控制烧结 RCS
曲线识别，通过数据库对比识别未知的ΔL/L0曲线
密度测量，能够测量样品密度的连续变化，可应用于固体、液体、熔体、粘稠样品（如涂料），以及用于计算各向异性材料的体膨胀。